Imatge obtinguda mitjançant un microscopi electrònic d'escombrat.
Es pot
apreciar vuit nanofils de silici suspesos (silicon nanowires) entre set
plataformes d'ancoratge i dos elèctrodes per a la seva excitació
elèctrica.
Els nanofils suspesos son estructures molt prometedores en els camps de
la nanoelectrònica i nanomecànica, on s'investiga emprar-los com a
transistors electrònics (ordinadors, telèfons intel·ligents, components
electrònics específics,...) i com a sensors/actuadors de dimensions
sub-micromètriques (nano-robors, sensors de massa,...)
Els nanofils de la imatge mesuren 4 micròmetres de llarg, 0,1 micròmetre
d'ample i 0,04 micròmetre d'espessor. Cada plataforma d'ancoratge
presenta quatre estructures de compensació per evitar el sobregravat
durant la fabricació, donant peu a la seva similitud amb naus espacials.
Imatge
obtinguda mitjançant un microscopi electrònic d'escombrat.
La imatge
mostra una punta micromecanitzada de silici (pel seu ús en microscopia
de forces atòmiques, AFM) juntament amb una partícula de 10 micròmetres
de diàmetre i una tela de pols.
La microscòpia de forces atòmiques és una eina de gran importància i
molt utilitzada en investigació per realitzar mapes topogràfics i
interactuar amb la materia a escala nanomètrica.
La informació es
produeix de la interacció i detecció de forces moleculars i atòmiques
que actuen entre la punta i la mostra.
La imatge ens transporta a l'expansió de l'agricultura durant l'antic
Egipte. La partícula representaria el sol, la tela de pols l'aigua del
Nil, la punta d'AFM s'assembla a una piràmide i la textura de la
micropalanca de suport representaria una plantació.
