Imatge
obtinguda mitjançant un microscopi electrònic d'escombrat.
La imatge
mostra una punta micromecanitzada de silici (pel seu ús en microscopia
de forces atòmiques, AFM) juntament amb una partícula de 10 micròmetres
de diàmetre i una tela de pols.
La microscòpia de forces atòmiques és una eina de gran importància i
molt utilitzada en investigació per realitzar mapes topogràfics i
interactuar amb la materia a escala nanomètrica.
La informació es
produeix de la interacció i detecció de forces moleculars i atòmiques
que actuen entre la punta i la mostra.
La imatge ens transporta a l'expansió de l'agricultura durant l'antic
Egipte. La partícula representaria el sol, la tela de pols l'aigua del
Nil, la punta d'AFM s'assembla a una piràmide i la textura de la
micropalanca de suport representaria una plantació.
Cap comentari:
Publica un comentari a l'entrada